Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (English Edition)

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing.  The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.

Procurando Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (English Edition)? Aqui você encontra tudo sobre este livro de Selahattin Sayil em 16 de novembro de 2017. Nesta página estão a descrição da obra, os detalhes da edição e os formatos disponíveis para baixar: epub, pdf, lit, odf. O livro está escrito em Inglês. Se você gosta de Inglês e Outras Línguas, Por Idioma, eBooks em inglês, Computação, internet e mídia digital, explore também outros títulos da mesma categoria no Leitura em português. Veja ainda as outras obras de Selahattin Sayil em nosso catálogo.

Isbn 13:9783319696737
Encadernação:Kindle
Edição Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (English Edition):1st ed. 2018
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